Андрей_R |
16.11.2017 14:11 |
9030 82 000 0 (0%)
Для измерений или проверки полупроводниковых пластин или приборов
В данную субпозицию включаются электрические устройства или системы для тестирования, которые измеряют или проверяют электрические величины, такие как напряжение, частота и т.д., с целью определить пригодность к эксплуатации полупроводниковых пластин, кристаллов и прочих полупроводниковых приборов и отобразить такие дефекты, как отклонение от заранее установленных параметров.
Такие устройства или системы обычно состоят из устройства для измерения и проверки (с клавиатурой для ввода, памятью для хранения программ и терминалом с ЭЛТ), которое производит измерение и сравнивает полученные результаты с контрольными величинами, а затем отображает их, управляющего устройства (с вычислительной машиной или микропроцессорами), выходного принтера для распечатки результатов теста и устройства для сортировки
оттестированных компонентов в соответствии с специфическими конкретными значениями и отбора изделий с дефектами.
|